本工序主要目的是將置球完畢整條(Strip)的產(chǎn)品,分割成單獨的正式的BGA產(chǎn)品。主要有三種方式:剪(Punch),切(Saw),銑(Rout),如下圖所示。
Punch:利用特定的治具,在沖床上把BGA封裝一個一個的剪切下來;
Saw:把Strip貼在Tape上(防止切割后封裝散落),利用真空牢牢吸附在切割機的切割平臺上,切割刀片高速旋轉(zhuǎn),并按照程序的設(shè)定沿著封裝BGA封裝邊緣移動,將Strip上的BGA單獨切割開來。
Rout:Strip固定在銑床上,銑刀高速旋轉(zhuǎn)并圍繞Strip上BGA封裝的邊緣移動,利用銑刀的切割作用,將每一個BGA封裝單獨銑切下來。

Strip切單的三種方式
Punch的視頻在前面章節(jié)已有,下面是Strip切割的視頻,僅供參考。
切單后的封裝,被從tape上取下,并整齊的放入Tray盤,如下圖所示。

拾取設(shè)備及裝tray
主要有目檢,光學(xué)檢測,X-ray檢測等,如下圖所示。
目檢:以目視的方法檢驗切單后的封裝的外觀不良,例如印字缺陷、塑封缺陷、切單缺陷等。
光學(xué)檢測:檢測封裝后產(chǎn)品的外型是否滿足規(guī)格(如翹曲度),以及焊球的質(zhì)量缺陷,如少球、焊球偏移等。
X-ray檢測:通過X射線透視封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu),檢測金線(斷裂、短路等),塑封(空洞、分層等),錫球(脫焊,偏移等)。

光學(xué)檢測設(shè)備,目檢及X-ray檢測機
下一章節(jié),我們會繼續(xù)SiP的工藝流程,講述Testing工序,敬請關(guān)注。